Fisher Zhang 张震宇
GM, Complex SOC BU, Asia, Teradyne
泰瑞达Complex SOC 事业部亚太区总经理

讲师简介 / Speaker Bio

张震宇（Fisher）是Teradyne半导体测试亚太区 Complex SOC事业部总经理。他专注于包括计算、汽车、无线领域的前沿解决方案以及新兴市场的创新和成长。
Fisher在半导体自动化测试(ATE)行业拥有超过17年的丰富经验。他于2017年加入Teradyne，在此之前，他在Advantest和Cohu担任技术、销售和营销领域的专家/管理岗位。
Fisher分别于2003年和2006年获得东南大学学士学位（通信工程）和硕士学位（电路与系统）。

摘要 / Abstract

Chiplet和异构集成近年来越来越流行。从设计、制造、封装到测试，都面临着多重挑战。当我们处理更复杂的测试流程，比如KGD (Known Good Die)测试、最终测试和系统级测试(System Level Test)，优化总体质量成本的策略仍然至关重要。策略背后的关键点包括，在设计过程的初期，新产品导入或大批量生产之前，采用通用工具使得设计人员和测试工程师进行充分协作，进行芯片验证和故障调试；将某些测试流程转移到整个流程的早期，可以减少在KGD集成之前的早期缺陷；将一些测试推迟到制造过程的后期，可以降低测试成本，从成本和技术上优化发现缺陷的能力；随着制造过程的成熟和稳定，对这些过程进行大数据的分析且在制造流程中调整测试流程从而达到优化总体质量成本。来自EDA公司、DFT、运营、晶圆代工厂、OSAT、ATE-SLT供应商团队之间的合作将是成功的关键。