IC 制造产业链国际论坛 - 晶圆制程与设备


日期: 2026年3月26日 周四
时间: 09:00-12:00
地点: 上海浦东嘉里大酒店,三楼,浦东厅 5
现场提供中英或中日同声传译

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在摩尔定律逼近物理极限与算力需求爆发的交汇点,IC制造正面临前所未有的挑战:如何通过设备的深度数据化突破良率瓶颈?如何利用先进的预测分析技术化解非计划停机风险?又如何在复杂的工艺节点下,实现生产效率的极致跃升?

本次设备与制程论坛,将聚焦于“设备+数据+工艺”的深度协同。我们将深入探讨:

数据驱动的良率管理革新:从传统的抽样检测迈向全量数据分析,利用先进的算法模型精准定位缺陷根源,实现良率的“透明化”与“可预测性”。

设备维护的范式转移:告别被动抢修,拥抱基于数字孪生的预测性维护体系,最大化设备综合效率(OEE),保障产线7x24小时稳定运转。

工艺与设备的智能协同进化:面对先进制程与先进封装的严苛要求,探讨设备如何通过自适应控制与实时反馈机制,完美适配精细化工艺窗口。

我们诚邀来自全球的IC制造领军企业、设备供应商、数据分析专家及工艺研发领袖,共同分享前沿洞察与落地实践。在这里,您将洞悉供应链智能化升级的可行路径,探索高效协同的新生态,共同推动半导体制造的高质量发展。

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Agenda / 议程
   
09:00-09:25 Registration 来宾登记
   
09:25-09:30
Opening Remarks / 开幕致辞
Lily Feng, President, SEMI China
冯莉,SEMI中国 总裁
   
09:30-09:50 Beijing NAURA Microelectronics Equipment Co., Ltd.
北京北方华创微电子装备有限公司
   
09:50-10:10 Applied Materials
应用材料公司
   
10:10-10:30
Johnson Cheng 程全森
VP, Hwatsing Technology Co.,Ltd.
副总经理 华海清科股份有限公司
   
10:30-10:50 Tokyo Electron Limited
TEL
   
10:50-11:10
The Challenges and opportunity about the Electro-chemical plating technology for chips 3D integration
三维芯片集成领域电镀技术的挑战和机遇

Zhaowei Jia 贾照伟
Process Vice President, ACM Research(Shanghai), Inc.
工艺副总裁 盛美半导体设备(上海)股份有限公司
   
11:10-11:30
Chen Xianglong 陈祥龙
VP,Qingdao SRI Intellectual Technology Co., Ltd.
副总 青岛思锐智能科技股份有限公司
   
11:30-11:50
Xu Kaidong 许开东 博士
Chairman&CEO, Jiangsu Leuven Instruments Co., Ltd
董事长兼CEO,江苏鲁汶仪器股份有限公司
   
* 议程以最终版为准
* The agenda is subject to being updated.