潘津
苏州华兴源创科技股份有限公司，CTO

个人简介

专利：10 著作发表：11
1995-2016，英特尔公司，分类测试技术开发，技术和制造组
2011-2016，资深 首席工程师

5G无线射频测试解决方案的首席架构师；为内部测试机台构建了业界最高的现行设备电源（达数百安培）；架构了大功率，最高密度，大规模并行半导体器件老化解决方案；架构了行业内低成本，集成度最高的器件参数测量仪器解决方案。

2007- 2010，首席工程师
构建了数字通道卡和低电流、中等电流设备电源卡并指导设计工程师进行实施和性能优化； 解决与制造工艺相关的热敏二极管问题，并发明了一种热敏二极管补偿算法。

2005 – 2006，RF/MS 测试战略组经理
领导一个工程师小组，并开发出4种不同的最终测试模块，用于测试英特尔的迅驰WiFi基带和RF产品。与设备开发工程师合作，并与供应商开发了当时最高密度的RF仪器（A93K 10x）。

2001 – 2004，新路径开发经理
领导了一个由4名工程师组成的小团队，从根本上重新架构了老化测试系统和系统级测试。（SLT）系统，并对测试流程和测试过程进行了大量改进。

1995– 2000，晶圆排列模块开发工程师，晶圆分类模块开发小组组长
开发了绑定排序探测过程，完成了英特尔首个C4探测过程和12“晶元探测系统的开发，开发了英特尔第一款自动化分类SPC / SBL系统，该系统具有自动响应功能。之后该功能也扩展到所有测试步骤，开发J973结构分类模块，提出并证实了排序模块上的电Z高度对齐，并沿用至今。